Der PID-Effekt (Potential Induced Degradation) ist eine spannungsinduzierte Leistungsdegradation bei kristallinen Solarmodulen. Hohe Systemspannungen (typisch 600–1500V DC) verursachen Leckströme durch die Modulverglasung, die zu Leistungsverlusten von bis zu 70% führen können.
Bei negativer Spannung zwischen Zelle und Rahmen wandern Natriumionen aus dem Glas in die Antireflexschicht und die Zelloberfläche. Dies führt zu einer Shunting-Wirkung und reduziert die Kurzschlussspannung. Begünstigt wird PID durch hohe Luftfeuchtigkeit, hohe Temperaturen und Systemspannungen über 600V.
EN-Gutachter setzt folgende Diagnoseverfahren ein: Elektrolumineszenz-Aufnahmen (EL) zeigen betroffene Zellen als dunkle Bereiche. IV-Kennlinienmessungen quantifizieren den Leistungsverlust. Thermografie identifiziert auffällige Temperaturmuster. Die Kombination ergibt ein gerichtsfestes Schadenbild.
PID ist in vielen Fällen teilweise reversibel durch Nachtregenerierung (Anlegen einer positiven Spannung über Nacht) oder durch spezielle PID-Recovery-Boxen. Vollständige Erholung ist jedoch nicht garantiert — insbesondere bei langjährigem PID können irreversible Zellschäden vorliegen. Eine sachverständige Bewertung quantifiziert das Regenerationspotenzial.
PID-Degradation: 31 % Verlust an 280-kWp-Anlage
Realer anonymisierter Untersuchungsfall mit Messwerten, Zeitablauf und wirtschaftlicher Bewertung.